Это не абстракция, а недостающий масштаб детализации! Как увидеть то, что остается за пределами разрешения компьютерной томографии? В новой статье разбираемся, как улучшить моделирование почвенных свойств и процессов. Для этого Кирилл Толстыгин вместе с коллегами применил FIB-SEM — метод, позволяющий анализировать структуру почвенных агрегатов на субмикронном уровне. 🟤 На примере миграционно-мицеллярного чернозёма Центрально-Черноземного заповедника показано, что FIB-SEM выявляет поры радиусом менее 1 мкм, органические включения и морфотипы пор, которые не фиксируются при стандартном томографическом анализе. Новизна исследования: метод позволил выйти на масштаб, где становятся различимы тонкие механизмы структурообразования почвы и организации порового пространства. 📤При этом FIB-SEM рассматривается не как замена томографии, а как её дополнение с высоким разрешением: томография дает общую архитектуру, FIB-SEM — детали, скрытые на субмикронном уровне. Результаты открывают новые возможности для изучения почвенной структуры и органического вещества. Хотите процитировать? Толстыгин К.Д., Романенко К.А., Коростылёв Е.В., Парочкин А.В., Скворцова Е.Б., Герке К.М. Метод сканирующей электронной микроскопии с фокусированным ионным пучком в почвоведении: новые подходы к анализу почвенной структуры. // Вестник Московского Университета. Серия 17. Почвоведение. 2026. № 1. c.139-149 https://doi.org/10.55959/MSU0137-0944-17-2026-81-1-139-149. #АгроДТ_публикует