Объединяя усилия для развития SPICE-моделирования в России SPICE-моделирование: автоматическая параметризация полупроводниковых структур и приборов с применением российских Тестеров FORMULA® 10 февраля состоялся Круглый стол «Spice-модели электронной компонентной базы. От искусства схемотехники к технологии схемотехнического моделирования» под эгидой технического комитета Росстандарта ТК-165 «САПР электроники», ВНИИА, ФГУП РФЯЦ-ВНИИЭФ (ИЯРФ) и ВлГУ. От компании ФОРМ с докладом выступил Александр Постников, руководитель проектов поставок измерительных и испытательных комплексов FORMULA®. Тема доклада:  «Применение российских Тестеров FORMULA® TT3 и FORMULA® SD для снятия ВАХ, ВФХ и динамических характеристик полупроводниковых приборов для систем параметрической экстракции параметров SPICE-моделей». В ходе выступления Александр показал следующие преимущества применения Тестеров FORMULA® TT3 и FORMULA® SD для формирования массивов характеристик полупроводниковых приборов и структур, необходимых для экстракции SPICE-параметров:   🤩 Полная автоматизация снятия массивов данных. 🤩 Представление данных в форматах, пригодных для непосредственной загрузки в системы параметрической экстракции SPICE-моделей (Keysight IC-CAP  и др.).  🤩 Подтвержденная метрологическая состоятельность. Обладатели Тестеров  FORMULA® TT3 уже сейчас имеют в своих руках широкие возможности параметризации полупроводников: 🤩Режим ВАХ для извлечения массивов данных вольт-амперных характеристик в диапазонах от 100 нА до 100 А и от 100 мВ до 200 В. 🤩Режим ВФХ для извлечения массивов данных вольт-фарадных характеристик в диапазонах от 1 В до 200 В и от 30 пФ до 40 нФ. 🤩Режим снятия массивов данных зарядовых параметров полевых транзисторов в диапазоне от 1 нКл до 400 нКл в зависимости от напряжения на сток-истоке в диапазоне от 5В до 40 В. Этого уже достаточно для создания квазистационарных SPICE-моделей транзисторов и диодов, что подтверждается успешными результатами ученых ВШЭ, полученными в интересах российской промышленности. При этом новейшая разработка Компании ФОРМ — Тестер FORMULA® SD, открывает принципиально новые возможности для SPICE-моделирования, за счет извлечения метрологически подтвержденных массивов данных, характеризующих временные характеристики ППП: 🤩время задержки, нарастания, спада, включения и выключения полевых транзисторов и IGBT в диапазоне от 5 до 100 нс, в зависимости от напряжения на стоке/коллекторе, истоке/эмиттере в диапазоне от 5 до 800В при напряжении на затворе до 35 В. 🤩время обратного восстановления диода в диапазоне от 5 до 100 нс при напряжении между анодом и катодом в диапазоне от 5 до 800В. Добавление к массивам данных ВАХ/ВФХ «динамических» массивов данных, полученных при изменении напряжений на стоке, истоке, коллекторе, эмиттере, открывает уникальную возможность донастройки SPICE -моделей, превращая их из квазистационарных в максимально приближенные к реальной характеризации зарядовых эффектов и переходных процессов в транзисторах и диодах. Продолжение 🤩🤩🤩