Терагерц «видит» сквозь корпус: создан метод неинвазивного мониторинга работы микросхем Исследователи из University of Adelaide представили технологию, позволяющую наблюдать за процессами внутри работающих электронных чипов без вскрытия корпуса, отключения питания и подключения физических зондов. Решение основано на применении терагерцового излучения и может изменить подход к диагностике и разработке полупроводниковых устройств. Читать подробнее: https://www.cta.ru/news/cta/183025.html